Цикл праць "Дифузна динамічна дифрактометрія наносистем"

Номер роботи - M 0

М68

Автори: Дмітрієв С.В., Рудницька І.І., Скакунова О.С., Решетник О.В.

 

Представлений Інститутом металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України.

Диффузная динамическая комбинированная дифрактометрия наносистем Авторы: Дмитриев С.В., Рудницкая И.И., Скакунова Е.С., Решетник О.В.

Diffuse dynamical combined diffractometry of nanosystems Authors: Dmitriev S., Rudnitskaya I., Skakunova O., Reshetnyk O.

 

Кількість публікацій:26 статей, 1 патент.

 

Авторами створено теоретичні та експериментальні основи радикального підвищення інформативності та чутливості діагностики наносистем з неоднорідним розподілом мікродефектів багатьох типів та макродеформацій. Це нове покоління діагностики не має аналогів у світі та названо дифузною динамічною комбінованою дифрактометрією.

Побудовано динамічну теорію екстинкційних ефектів дифузного розсіяння. Теоретично та експериментально встановлено ефект асиметрії азимутальної залежності повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) у випадку дифракції за Бреггом та його фізичну природу і високу структурну чутливість. Побудовано узагальнену динамічну модель ПІВЗ в кристалах з дефектами та порушеним поверхневим шаром, запропоновано нову модель деформаційної залежності. Вперше встановлено залежність від ПВ дифузної складової ПІВЗ. В результаті створено унікальний метод кількісної діагностики характеристик ВРД, в тому числі і нанорозмірних, на основі вивчення деформаційних залежностей ПІВЗ.

Розроблено теоретичну модель дифракції з врахуванням динамічних ефектів як когерентного, так і дифузного розсіяння в складних гетероструктурах, що дозволило здійснити неруйнівну повну адекватну кількісну пошарову характеризацію гетероструктур з одержанням нової інформації про характеристики дефектів в кожному шарі окремо.

Розроблено нові фізичні моделі і методичні основи високоінформативних динамічних методів трикристальної дифрактометрії дефектної структури монокристалів. Створено і реалізовано диференційно-інтегральний метод.

Авторами створено комплекс взаємодоповнюючих принципово нових неруйнуючих методів дифузної динамічної дифрактометрії, комбіноване використання яких дозволило дати повну характеристику багатьох типів дефектів та порушених поверхневих шарів у кристалах, а також у багатошарових гетероструктурах і надгратках.